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简要描述:一般的测试方法,由于探头的“升离效应"导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的测量。而CMI243便携金属镀层测厚仪将新的基于相位电涡流技术应用到CMI243,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3%以内的度。仪器对电涡流技术的应用,将底材效应小化,使得测量精准。便携式、无损测量各种金属镀层
产品型号:CMI243
更新时间:2023-11-21
浏览次数:2018产品分类
详细介绍
CMI243便携金属镀层测厚仪 CMI243是一款灵便易用的仪器,为金属表面处理者设计,配置的单探头可测量铁质底材上金属镀层。在小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力,使其成为紧固件行业应用的工具。 采用基于相位电涡流技术,CMI243手持式测厚仪以友好的控制准确、精密的测量 测量技术:一般的测试方法,例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式,由于探头的“升离效应”导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的测量。而CMI243便携金属镀层测厚仪将新的基于相位电涡流技术应用到CMI243,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3%以内的度。仪器对电涡流技术的应用,将底材效应小化,使得测量精准。另外,仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。
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